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[会议论文] 作者：魏峰;吴郁;吴立成;周新田;,
来源：2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会 年份：2013
功率半导体器件静电放电(electrostatic discharge简称ESD)的可靠性在应用中至关重要,其抗ESD的机理需深入研究.采用一种符合GB/T 17626.2标准的简明分段线性电流源,对功率快...
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