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[期刊论文] 作者：史大道,顾尚德,丁洪成,,
来源：光学仪器 年份：1980
本文介绍了一种测试膜层强度仪器的结构、实测数据以及设计中的一些计算,并阐述了薄膜牢固度的概念。This paper presents a test of the strength of the instrument film...
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