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[学位论文] 作者:杜延康,, 来源:国防科学技术大学 年份:2015
我国航天科技的飞速发展,使得空间应用抗辐射集成电路的研究已经成为学术界和工业界的关注重点。随着工艺尺寸的缩减以及时钟频率的增加,组合电路中的软错误率已逐渐成为总的...
[期刊论文] 作者:杜延康, 来源:小学生作文:中高年级版 年份:2010
暑假来了。同学们在享受快乐假日的同时,千万别忘了观察周围事物.积累写作材料。特别是六年级同学,开学后练写的第一篇习作就要求记叙丰富多彩的暑假生活(见人教版《语文》六年级......
[学位论文] 作者:杜延康, 来源:国防科学技术大学 年份:2018
[期刊论文] 作者:陈书明,杜延康,刘必慰,, 来源:国防科技大学学报 年份:2012
随着工艺尺寸的不断缩小,组合电路引起的SER(Soft Error Rates)越来越严重。针对使用HSPICE计算组合电路软错误率速度较慢以及使用传统的组合电路软错误率分析工具在对待重汇聚...
[会议论文] 作者:张世永,孙永节,杜延康, 来源:全国抗恶劣环境计算机第二十三届学术年会 年份:2013
本文采用三维混合模拟研究了经过源极隔离P-hit SET加固技术加固的单个反相器的敏感面积,并且利用HSPICE模拟计算了加固后反相器的延迟和功耗.同时和未经加固的单个CMOS反相...
[会议论文] 作者:陈强,刘衡竹,梁斌,杜延康,尹湘江, 来源:全国抗恶劣环境计算机第二十二届学术年会 年份:2012
  文章首先分析了影响CMOS工艺下SRAM单粒子翻转效应的失效物理机理,然后提出一种加固PMOS管的10T存储单元电路。基于130nm CMOS工艺的Hspice模拟验证该电路的功能,结果表...
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