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[期刊论文] 作者:杨红伟,张世祖,陈玉娟,家秀云,, 来源:微纳电子技术 年份:2008
大功率激光二极管阵列的正向特性失效问题严重影响器件的成品率和可靠性。对典型的失效现象进行了分类,确认了主要的失效现象是正向漏电。结合分阶段测试统计和对失效样品的显......
[期刊论文] 作者:陈宏泰,花吉珍,家秀云,陈玉娟,沈牧, 来源:半导体技术 年份:2004
光束质量问题是制约半导体激光器应用的主要因素,采用出光面蒸镀低反膜LD阵列半导体激光器阵列锁相技术较好地解决了这个问题.本文设计并制作了高反膜系和极低反膜系,获得了...
[期刊论文] 作者:彭海涛, 家秀云, 张世祖, 花吉珍, 杨红伟, 陈宏泰, 安振, 来源:微纳电子技术 年份:2009
[期刊论文] 作者:彭海涛,家秀云,张世祖,花吉珍,杨红伟,陈宏泰,安振峰,, 来源:微纳电子技术 年份:2009
大功率半导体激光器的腔面退化是影响其寿命和可靠性的重要因素,长期以来一直是人们关注和研究的重点。本文利用离子铣结合腔面钝化还原层的方法对大功率半导体激光器的腔面进......
[期刊论文] 作者:张世祖,杨红伟,花吉珍,陈宏泰,陈玉娟,家秀云,徐会武,沈牧,, 来源:微纳电子技术 年份:2009
采用腔面电流非注入技术,提高了808nm半导体激光器灾变性光学损伤(COD)阈值。通过腐蚀GaAs高掺杂层的方法,在半导体激光器腔面附近形成电流非注入区,以此来减少腔面处的载流子...
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