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[期刊论文] 作者:吴浚瀚, 来源:现代科学仪器 年份:2003
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,白春礼, 来源:现代科学仪器 年份:2003
开放式多功能扫描探针显微镜、集成扫描隧道显微镜、原子力显微镜、横向力显微镜和静电力显微镜 ,具有接触、半接触和非接触工作模式 ,可进行作用力、电流、电位、光能量等参...
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,成英俊, 来源:科学通报 年份:1993
1986年,Binnig等人研制成功第一台原子力显微镜(AFM)。和STM不同,AFM不受样品导电性的限制,因而其应用领域更为广阔。1988年,国外开始对AFM进行改进,研制出激光检测原子...
[期刊论文] 作者:傅思镜,吴浚瀚,, 来源:应用激光 年份:1990
本文将微电脑应用到激光热透镜光谱术中,对该技术的整个实验流程进行自动控制、直接采集和处理数据并输出结果。同已往记录仪相比较,具有灵敏度高、效率高、操作简便、结果可...
[期刊论文] 作者:丁喜冬,关景新,黄龙飞,吴浚瀚,, 来源:材料工程 年份:2008
纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前权局限于实验室范同,......
[期刊论文] 作者:张玉东,方勇纯,余冠云,吴浚瀚, 来源:控制工程 年份:2004
针对迟滞非线性引起的压电扫描器定位不准确问题,提出一种基于变比模型的迟滞前馈控制方法.通过分析原子力显微镜(AFM)扫描图像数据,利用变比模型,对压电扫描器的迟滞非线性...
[会议论文] 作者:丁喜冬[1]关景新[1]黄龙飞[1]吴浚瀚[2], 来源:第七届中国国际纳米科技(武汉)研讨会 年份:2008
纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室...
[会议论文] 作者:张玉东[1]方勇纯[1]余冠云[2]吴浚瀚[2], 来源:第21届中国过程控制会议 年份:2010
针时迟滞非线性引起的压电扫描器定位不准确问题,提出一种基于变比模型的迟滞前馈控制方法。通过分析原子力显微镜(AFM)扫描图像数据,利用变比模型,对压电扫描器的迟滞非线性进......
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,成英俊,戴长春,黄桂珍,谢有畅,龚立三,白春礼,, 来源:科学通报 年份:1993
扫描探针显微术(SPM)的基本原理最初在50年代由J.A.O’Keefe提出,1982年,Binnig和Rohrer等人研制成功第一台SPM——扫描隧道显微镜(STM),并因此获得了1986年诺贝尔物理学奖...
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,成英俊,戴长春,黄桂珍,谢有畅,龚立三,白春礼,, 来源:科学通报 年份:1993
1986年,Binnig等人研制成功第一台原子力显微镜(AFM)。和STM不同,AFM不受样品导电性的限制,因而其应用领域更为广阔。1988年,国外开始对AFM进行改进,研制出激光检测原子力显...
[期刊论文] 作者:谷俐,王远亮,杨华,唐丽灵,吴浚瀚,夏烈文,罗琦, 来源:Transactions of Nonferrous Metals Society of China 年份:2003
By means of atomic force microscope, the surface pattern, particle size distribution, and specific surface area of La-Ti composite oxide were studied. The compo...
[期刊论文] 作者:吴浚瀚, 成英俊, 戴长春, 黄桂珍, 谢有畅, 龚立三, 白春, 来源:科学通报 年份:1993
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,杨德亮,吴浚泓,袁伟华,黄桂珍,牟涛,商广义,万立骏, 来源:现代科学仪器 年份:2003
开放式多功能扫描探针显微镜、集成扫描隧道显微镜、原子力显微镜、横向力显微镜和静电力显微镜,具有接触、半接触和非接触工作模式,可进行作用力、电流、电位、光能量等参数...
[期刊论文] 作者:吴浚瀚,杨德亮,吴浚泓,袁伟华,黄桂珍,牟涛,商广义,万立骏, 来源:现代科学仪器 年份:2003
开放式多功能扫描探针显微镜、集成扫描隧道显微镜、原子力显微镜、横向力显微镜和静电力显微镜 ,具有接触、半接触和非接触工作模式 ,可进行作用力、电流、电位、光能量等参...
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