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[会议论文] 作者：杨恩山,黄柯衡,胡瑜,李晓维,龚健,刘鸿谨,刘波,华更新,
来源：第十五届全国容错计算学术会议(CFTC'13) 年份：2013
随着工艺特征尺寸逐渐趋近于纳米级,SRAM型FPGA越来越容易受到软错误的影响而引发系统故障.检查点是进行故障恢复的有效技术,可以将故障系统恢复至之前的正常状态.由于检查点...
[会议论文] 作者：陈国路,黄柯衡,胡瑜,李晓维,刘波,刘鸿谨,龚健,华更新,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
SRAM型FPGA具有设计开发周期短、设计制造成本低、可反复编程、灵活性高等优点，在航空航天领域中的应用逐渐受到重视。但是SRAM型FPGA极易受空间高能带电粒子导致的单粒子翻转效应的影响，严重制约芯片可靠性。本文针对SRAM型FPGA的可靠性问题，提出并实现了基于动态......
[会议论文] 作者：杨恩山[1]黄柯衡[1]胡瑜[2]李晓维[2]龚健[3]刘鸿谨[3]刘波[3]华更新[3],
来源：第十五届全国容错计算学术会议(CFTC'13) 年份：2013
随着工艺特征尺寸逐渐趋近于纳米级,SRAM型FPGA越来越容易受到软错误的影响而引发系统故障.检查点是进行故障恢复的有效技术,可以将故障系统恢复至之前的正常状态.由于检查点...
[会议论文] 作者：陈国路[1]黄柯衡[1]胡瑜[2]李晓维[2]刘波[3]刘鸿谨[3]龚健[3]华更新[3],
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
SRAM型FPGA具有设计开发周期短、设计制造成本低、可反复编程、灵活性高等优点，在航空航天领域中的应用逐渐受到重视。但是SRAM型FPGA极易受空间高能带电粒子导致的单粒子...
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