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[期刊论文] 作者：何菊生,
来源：华东水电技术 年份：1998
工程项目的工期，投资，质量是影响综合效益的重要因素。在监理工作中，监理工程师应适善处理好这三者的关系。...
[学位论文] 作者：何菊生,
来源：南昌大学 年份：2007
Chin等人以载流子浓度和补偿度为参量，运用变分原理从理论上计算得到了室温电子迁移率的变化图线，他们的研究成果，被大量文献引用来评估GaN材料的补偿度。然而，根据他们的图象比......
[期刊论文] 作者：何菊生,张萌,肖祁陵,,
来源：南昌大学学报(理科版) 年份：2006
比较了晶格失配度的各种定义,建议统一使用同一定义。采用简化模型系统地探讨了各种情况下半导体外延生长层和衬底的二维晶格失配度的计算,最后讨论了结合XRD衍射图谱确定失...
[期刊论文] 作者：何菊生,张萌,许彪,唐建成,,
来源：半导体学报 年份：2007
用数值方法将室温n型GaN补偿度θ表示为Caughey-Thomas解析模型函数.对大多数非故意掺杂样品,该模型值θChin与Chin等人的理论值及普遍采用的变温霍耳测量拟合值比较表明,三...
[期刊论文] 作者：何菊生,张萌,潘华清,齐维靖,李平,,
来源：物理学报 年份：2016
采用点缺陷线性分布模型，利用能量弛豫方法得到了基于van der Pauw变温霍尔效应测量来确定纤锌矿n-GaN位错密度的新方法。用高分辨率X射线衍射仪测试了两个分别用MOCVD方法和...
[期刊论文] 作者：何菊生,张萌,潘华清,邹继军,齐维靖,李平,,
来源：物理学报 年份：2017
结合莫特相变及类氢模型,采用浅施主能量弛豫方法,计算了一类常见n-Ga N光电子材料的载流子迁移率,给出了精确测定其刃、螺位错密度的电学方法.研究表明,对于莫特相变材料(载...
[期刊论文] 作者：何菊生,张萌,邹继军,潘华清,齐维靖,李平,
来源：物理学报 年份：2017
三轴X射线衍射技术广泛应用于半导体材料参数的精确测试,然而应用于纤锌矿n-GaN位错密度的测试却可能隐藏极大的误差.本文采用三轴X射线衍射技术测试了两个氢化物气相外延方...
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