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[期刊论文] 作者:,Hui-jie ZHU, 来源:浙江大学学报(英文版)(C辑:计算机与电子) 年份:2015
The bias drift of a micro-electro-mechanical systems (MEMS) accelerometer suffers from the 1/f noise and the tem-perature effect. For massive applications, the...
[期刊论文] 作者:Li An-Hua,Zhao Rui,Lai Bin,Wang Hui-Jie,Zhu Ming-Gang,Li Wei, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2011
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