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[期刊论文] 作者：郝贡章,刘洋,
来源：分析测试学报 年份：2000
用放射性同位素源激发小型能量色散Ｘ射线荧光；光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速宣测定，在银含量为１０．００％～９９．９％扣范围内，测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结......
[期刊论文] 作者：郝贡章,邱向东,
来源：有色金属技术经济研究 年份：1995
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[期刊论文] 作者：郝贡章,高新华,
来源：分析试验室 年份：1999
报道了Ｘ射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法，校正了样品中元素中间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构，不同几何形态及不同表面状态的影响，使钢......
[期刊论文] 作者：郝贡章,陆少兰,
来源：稀有金属 年份：1989
采用 X 荧光光谱点滴滤纸片薄样法直接测定江西龙南低钇稀土全分离工艺扩大试验中的萃取液分组组分 Dy-Ho-Er-Y-Tm。方法快速、准确、制样简便,避免了粉末氧化物制样的繁琐化...
[期刊论文] 作者：殷秀文,郝贡章,
来源：分析试验室 年份：1996
本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组分的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ，Ｚｎ，Ｃｕ，Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测......
[期刊论文] 作者：卜赛斌,郝贡章,
来源：光谱实验室 年份：1998
对新型波长色散单道顺序式X射线荧光光谱仪的性能作了比较，包括ARL 9400、PW2400／2404、SRS3400、RIX2100／3001和XRF1700等荧光光谱仪主要部件的技术指标、计算机硬件配置、定...
[期刊论文] 作者：郝贡章,卜赛斌,,
来源：上海有色金属 年份：1980
一、前言金属阳极涂层组分测试,国外曾见有采用破坏涂层的原子吸收光谱法,及用机械方法剥落涂层再进行涂层组分和结构分析的X射线分析方法。本文由Birks导出的X射线荧光激发...
[期刊论文] 作者：吴长存,郝贡章,李明洁,
来源：稀有金属材料与工程 年份：1984
一、前言近几年来,随着X射线荧光光谱仪的灵敏度和测量精度的提高,溶液—滤纸法在有色金属合金、稀土、环保试样等的分析以及超导、磁泡等各种薄膜的非破坏测定中得到了广泛...
[期刊论文] 作者：郝贡章,吴长存,李明洁,,
来源：分析化学 年份：1985
近年来用X射线荧光光谱测定薄样的方法及技术有了迅速发展,其中对于薄膜组份和厚度的非破坏测定,从Bergel等人用人工制备的点滴滤纸片薄样作标准以来,该方法又有新的进展,本...
[期刊论文] 作者：钱伯仁,何志壮,郝贡章,,
来源：稀有金属 年份：1980
冶金部有色系统发射光谱和 X 荧光光谱学术交流会于1980年3月15日至20日在苏州召开。会议由上海有色金属研究所主办,冶金部所属研究院、所、厂矿;中国科学院所属有关研究所:...
[期刊论文] 作者：程建邦,张文龙,郝贡章,欧通桃,
来源：物理 年份：2004
磁泡存贮器作为一种新的计算机存贮器在国内外受到广泛的重视.对于磁泡材料组份的测定国外多采用电子探针方法[1,2].这种材料是用外延法生长在乱镓石榴石基片上的含有多元稀...
[期刊论文] 作者：吴长存,郝贡章,李铭健,李明洁,
来源：分析试验室 年份：1983
所谓X射线荧光光谱滤纸片法,即试样溶解后分取少量溶液于固定面积的定量滤纸上制成薄样直接测定的方法。该方法能有效地消除基体效应,並且用人工合成标准样品,克服了化学法...
[期刊论文] 作者：吴长存,郝贡章,许佩珍,李明洁,
来源：稀有金属 年份：1983
本文以 X 射线荧光光谱法薄样原理为依据,采用人工合成滤纸片薄样标准,直接测定 Nb_3Ge超导薄膜的化学组份。并根据通用薄层判据,估算薄膜厚度的影响。Nb_3Ge 超导薄膜厚度在...
[期刊论文] 作者：郝贡章,卜赛斌,高新华,谢荣厚,
来源：分析测试学报 年份：2001
用高性能飞利浦PW2400 X射线荧光光谱仪，测定不锈钢中 Al、 Si、 P、 S、 Ti、 Cr、 Mn、 Co、 Ni、 Cu、 As、 Mo、 Sn、 W、 Fe 15个元素。给出了各元素的干扰校正系数和基...
[期刊论文] 作者：郝贡章,卜赛斌,高新华,谢荣厚,
来源：分析试验室 年份：1999
报道了Ｘ射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法，校正了样品中元素间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构，不同几何形态及不同表面状态的影响，使钢屑......
[期刊论文] 作者：郝贡章,吴长存,许佩珍,王文爽,
来源：分析试验室 年份：1987
本法用X荧光“NRLXRF”程序,仅需一个固体薄膜标准或滤纸片薄样混合标准就可测定原子比从0.x—8范围的Nb-Ge超导薄膜试样,其准确度能达到经验系数法的水平。用纯元素块状标样...
[期刊论文] 作者：郝贡章,陆少兰,刘洋,许佩珍,
来源：稀有金属 年份：1989
采用 X 荧光光谱点滴滤纸片薄样法直接测定江西龙南低钇稀土全分离工艺扩大试验中的萃取液分组组分 Dy-Ho-Er-Y-Tm。方法快速、准确、制样简便,避免了粉末氧化物制样的繁琐化...
[期刊论文] 作者：郝贡章,欧通桃,程建邦,黄毅英,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1985
本文用X射线光谱绝对强度法、经验系数法和基片内标比值法测定钆镓石榴石基片上的磁膜组份:Ca、Fe、Y、Sm、Ge。厚度范围从“薄展”区扩展到了“中厚”区,结果与化学值相符,...
[期刊论文] 作者：程建邦,程万荣,王喜红,郝贡章,吴长存,
来源：物理学报 年份：1983
本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤纸片标样制作简便...
[期刊论文] 作者：吴长存,郝贡章,李铭键,许佩珍,李明洁,
来源：冶金分析与测试(冶金分析分册) 年份：1985
近几年来,随着仪器的进步和分析技术的发展,X射线荧光光谱滤纸片法在合金薄膜、合金主成份、环保样品及稀土等的测定中得到广泛地应用.在合金主成份的测定中,以往均采用加入...
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