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[学位论文] 作者:轩久霞,, 来源:北京工业大学 年份:2003
信息革命及ULSI硅片时代的来临,使单片功能集成度持续增长,驱动着对更大电路密度和更高性能的需求。为了提高ULSI的频率特性,按比例缩小晶体管的特征尺寸的努力受到了互连线本征......
[期刊论文] 作者:轩久霞,卢振钧,李志国, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2003
随着ULSI向深亚微米特征尺寸发展,互连引线成为ULSI向更高性能发展的主要限制因素。由互连引线引起的串扰噪音及RC延迟限制了ULSI的频率性能的提高,同时考虑到电迁移和功率损耗...
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