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[学位论文] 作者：路香香,
来源：华南理工大学 年份：2008
随着电子元器件技术的发展,静电对元器件应用造成的危害越来越明显。为了能够在芯片设计阶段更好地进行ESD保护电路的设计改进,需要一个专门针对ESD保护电路/器件的精确模拟...
[期刊论文] 作者：路香香,姚若河,罗宏伟,,
来源：微电子学 年份：2007
随着现代集成电路的集成度越来越高,静电放电（Electrostatic Discharge,ESD）己成为电路失效一个不可忽视的原因。对电路级ESD的可靠性进行模拟是一个重要的研究课题。给出了在E...
[会议论文] 作者：路香香,罗宏伟,姚若河,
来源：第十二届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2007
随着集成电路的尺寸越来越小,其对静电放电(ElectrostaticDischarge, ESD)也变得越来越敏感,而电阻在ESD保护电路中可以起到隔离和分压的作用。本文主要对ESD应力下的扩散电...
[期刊论文] 作者：路香香,罗宏伟,姚若河,林志成,,
来源：微电子学 年份：2008
随着集成电路的尺寸越来越小,其对静电放电(ESD)也变得越来越敏感,而电阻在ESD保护电路中可以起到隔离和分压的作用。对ESD应力下扩散电阻的四个区域:线性区、饱和区、雪崩倍...
[期刊论文] 作者：罗宏伟,肖庆中,路香香,石晓峰,,
来源：微电子学 年份：2008
传输线脉冲（TLP）测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理，指出精确测试深护器件或电路在ESD大电流应...
[会议论文] 作者：廖超,路香香,来萍,崔晓英,李斌,
来源：第十二届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2007
本文介绍了硅双极型微波功率晶体管的发展历史和应用现状。针对硅脉冲微波功率器件增益退化的失效模式,通过对硅脉冲微波功率器件直流参数的统计分析,初步得出了其失效机理。...
[会议论文] 作者：廖超,来萍,李斌,崔晓英,路香香,
来源：第十二届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2007
本文介绍了硅双极型微波功率晶体管的发展历史和应用现状。针对硅脉冲微波功率器件增益退化的失效模式,通过对硅脉冲微波功率器件直流参数的统计分析,初步得出了其失效机理。...
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