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[期刊论文] 作者：欧琳,王静,林兴,惠一恒,赵勇,赖陆屹,胡鹏飞,王广才,
来源：自动化与仪器仪表 年份：2021
针对薄膜型锑化铟霍尔元件芯片性能测试,设计了一套霍尔元件芯片测试系统.系统主要由手动探针台、显微镜、探针卡、外加磁场、PLC以及测试软件组成,可以进行霍尔元件芯片的输...
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