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[期刊论文] 作者：薄兰邵,,
来源：微电子学与计算机 年份：2004
一、引言寿命试验和加速寿命试验可以分为两类,一是贮存寿命试验,它提供产品在贮存状态下的可靠性特征参数。二是工作寿命试验,它提供产品在工作状态下的可靠性特征参数...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：宇航学报 年份：1991
本文研究在威布尔分布下筛选时间的点估计和置信上限估计,分别包括图估计和数值估计。推导了为确定筛选时间的置信上限而建立的方程式。确定了IC高温动态老化的筛选时间。为...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：微电子学与计算机 年份：1992
本文研究IC恒定温度应力工作加速寿命试验。在对数正态分布下,参数的估计方法采用极大似然估计(MLE),进行了可靠性特征量估计和假设分布检验。同时,和威布尔分布下的可靠性特...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：质量与可靠性 年份：1990
本文研究了截尾数据对数正态分布参数和恒定应力加速寿命试验中参数的解析估计方法以及可靠性特征量估计。对同一失效数据的对数正态分布参数的GLUE和MLE估计进行了比较。为...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
本文提出对数正态模型的吸大似然估计方法(MLE)。在大子样时,这是一种简单而有效的方法。采用IC恒定温度应力加速试验的失效数据,求得了分布参数估计值和可靠性特征量估计值,...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
本文研究了威布尔分布和对数正态分布。通过分布参数估计和候设分布检验,在证实失效数据既符合威布尔分布又符合对数正态分布的基础上,提出了以检验统计量D。(理论分布函数和...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：微电子学与计算机 年份：1983
一、引言作者在[1]中曾对集成电路(TTL中速“与或非”门及“与非”门,型号B_3)高温贮存寿命试验的失效数据按照简单线性无偏估计(GLUE)方法进行处理,而采用GLUE方法的假设之...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,
来源：航天标准化 年份：1995
简述了指数分布和威布尔分布的特点。介绍了QJ2407—92《电子元器件寿命和加速寿命试验数据处理方法》的制定目的和依据;给出了假定产品的寿命服从自然对数正态分布的有关函...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,王占平,
来源：微电子学与计算机 年份：1975
我们已经把无损氦质谱检漏方法用于金属管壳的气密性检查。实践证明,这种方法稳定性比较好,是可靠的。曾对管座和电路进行过大量的检漏,开始淘汰率比较高,经过努力,平均...
[期刊论文] 作者：薄兰邵,程洁超,
来源：质量与可靠性 年份：1996
本文研究CMOS数字电路和恒定温度应力加速寿命试验。在对数正态分布下,进行了参数的极大似然估计(MLE)和可靠性特征量估计,并与TTL数字电路相比较,对失效样品进行了分析,为设...
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