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[会议论文] 作者:蔡正旭[1]王卫国[1]方晓英[1]郭红[2], 来源:第七届全国材料科学与图像科技学术会议 年份:2009
采用电子背散射衍射(EBSD)技术研究了不同变形量冷轧的工业纯铜样品经650℃/5min高温退火后的晶界特征分布(GBCD)。结果表明:经小变形(10[%])轧制并退火的样品中出现了较多的...
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