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[期刊论文] 作者：来海新,王艳霞,
来源：计量与测试技术 年份：2022
对于测量范围在300mm及以上大尺寸外径千分尺,在检定测砧与测微螺杆测量面的相对偏移操作过程中,由于现有JQJ-1型千分尺检定装置受到自重、尺寸等限制,只能检定测量范围较小的外径千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移项目.本文利用废旧外径千分尺测微头部分,......
[期刊论文] 作者：来海新,孟锤列,李峰,王艳霞,王旭,
来源：计量与测试技术 年份：2021
在实际工作过程中,校准高度卡尺(0～300)mm及300mm以上的示值误差操作过程,由于没有专用夹具,只能单手扶持,易造成单手疲劳、把持不稳.容易导致基面倾斜,产生测量误差....
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