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[学位论文] 作者：冯祥晨,
来源：北京大学 年份：2012
测试压缩技术由于能够显著压缩测试激励及响应数据,减少存储在ATE中的数据量,并能减少芯片的测试时间,已经被广泛应用于大规模集成电路的测试中。而在采用测试压缩技术的芯片...
[期刊论文] 作者：冯昱洁,钟喆,冯祥晨,,
来源：特区经济 年份：2012
本文首先对集聚、集群和山寨产业的概念进行了辨析,在此基础上判断深圳山寨产业集聚是否形成产业集群。采用实地考察和对已有研究与文献分析相结合的方式,研究了深圳市山寨产...
[会议论文] 作者：Feng Xiangchen,Feng Jianhua,冯祥晨,冯建华,Cui Xiaole,崔小乐,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半...
[会议论文] 作者：Feng Xiangchen,冯祥晨,Feng Jianhua,冯建华,Cui Xiaole,崔小乐,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半的内部扫描链接收来自扫描通道的测试激励,实现了广播式压缩环境下对内部扫描链选通的自动动......
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