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金属化聚丙烯薄膜电容器容量精度主要受薄膜的厚度偏差影响,通过厚度测量来对薄膜进行分检不太现实,一般都是检测卷绕后的元件容量来修正卷绕圈数。但扁式元件卷绕之后较松,测量容量需要使元件压扁压紧,实现起来较为复杂,效率低。本文介绍一种通过检测元件尺寸来调整卷绕圈数的方法可降低因厚度偏差引起的容量偏差,该方法操作简单方便,效率高。