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研究了基于同位素稀释质谱法原理准确测定锂同位素丰度的方法,编制方法的求解方程。对样品和稀释剂进行了纯化,用ICP发射光谱测定了其杂质元素总量,配制样品和稀释剂溶液。用质量法配制样品和稀释剂的混合溶液,用热电离质谱法测量了同位素丰度比值。计算得到方法的系统偏差校正因子为0.992 0。通过测量IRMM 016锂同位素标准物质得到的校正因子与本方法的校正因子一致,验证了方法的可靠性。用校正因子校正样品和稀释剂的同位素丰度比的测量值,得到准确值。同时,评定了方法的不确定度。结果显示,在95%的置信水平下,应用这