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为了压缩测试向量并降低芯片测试成本，本文提出了一种新的基于最小相关度扫描链的多捕获（Multi—capture）测试结构。通过构建具有最小相关度扫描链，使得多捕获测试在保证高故障覆盖率的同时降低所需ATE的存储容量。本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法。采用ISCAS’89基准电路的实验结果表明本文提出的结构和算法可以获得最高近90％的测试压缩比（大电路）。