研究存储器数据保持时间的温度加速效应,建立数据保持时间寿命预测方法和温度加速模型,实现应用温度数据保持时间的准确预测.通过研究和分析存储器在不同温度下的阈值电压随时间加速衰减测试数据,采用阿列纽斯模型即温度倒数(1/T)模型和温度(T)模型,推导出了温度加速参数,分别进行了应用温度下数据保持时间预测外推,并和应用温度下实际测试数据外推的数据保持寿命进行对比分析,得出数据保持寿命预测的准确模型.对比分析结果显示,阿列纽斯模型温度倒数(1/T)模型会导致预测寿命结果偏好很多倍,和实测数据结果差异较大,而温度(T)模型对数据保持时间寿命的预测很接近,也更为准确.分析比较了数据保持时间寿命预测的两种加速模型,即阿列纽斯温度倒数模型和温度模型,验证了温度模型可大幅度提高数据保持时间的预测准确度.