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在可靠性筛选中检测具有潜在损伤的器件一直是个难题。对GaAlAs红外发光二极管(IRLED)功率老化前后低频噪声的测量发现,1/f噪声幅值与偏置电流的γ次方成正比(小电流区γ≈1,在大电流区γ≈2),且老化后1/f噪声幅值比老化前增大2个数量级。基于载流子数涨落和迁移率涨落机制建立了一个GaAlAs IR LED的1/f噪声模型,分析结果表明GaAlAs IR LED的1/f噪声在小电流时反映体陷阱特征,大电流时反映激活区陷阱特征,l/f噪声的增加归因于功率老化诱生的界面陷阱和表面陷阱,1/f噪声可以用来