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针对现有模拟集成电路BIST设计需占用大量电路资源的不足，首次从幅频特性分析的角度提出一种基于脉冲测试技术的模拟集成电路嵌入式测试方案；从理论上对激励信号和特征频率的确定方法展开分析，给出并证明了测试参数最优化选择策略；该方案无需增加辅助电路，仅利用控制器内部资源实现测试，提高了测试可靠性并节省了硬件成本开销，此外，频域分析消除了输入输出信号必须同步的限制；实验结果表明，该方法诊断速度快。诊断正确率可达到90％。