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采用循环伏安法和微分脉冲伏安法对比地研究了包括五种Ｃ６０的衍生物及四种Ｃ７０的衍生物的电化学性质．结果表明，推电子基团的引入使得富勒烯的氧化还原电位负移，这种负移的程度与加成基团的性质、个数和富勒烯的性质有关．对于Ｃ６０和Ｃ７０的单加成产物，负移的范围是０．０８～０．２０Ｖ．而对于Ｃ６０的双加成和三加成产物负移的范围分别为０．３０～０．３２Ｖ和０．５３～０．５８Ｖ．同时由于电位的负移大部分衍生物在低于＋１．５Ｖ（ｖｓ．ＳＣＥ）观察到了氧化峰，而Ｃ６０和Ｃ７０本身的氧化高达＋１．７Ｖ（ｖｓ．ＳＣＥ）．特别是对于Ｃ７０的双加成产物在＋０．４５Ｖ（ｖｓ．ＳＣＥ）出现了一个不可逆氧化峰，但是，对于同样加成基团的Ｃ６０双加成产物的氧化却在＋０．９０Ｖ（ｖｓ．ＳＣＥ），说明由于推电子基团的双加成引入，明显改变了Ｃ７０的电负性．