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为减轻非同步采样和数据截断产生频谱泄漏和栅栏效应对介质损耗因数tan占测量的影响，可选用旁瓣峰值电平小、且渐近衰减速率大的窗函数对信号加权处理．本文分析了Rife～Vincent窗的旁瓣特性，提出了基于Rife—Vincent窗频谱校正的tan艿测量方法，运用多项式拟合求出了计算简单、实用的校正公式，推导了介质损耗角及tan占的计算式，并设计了基于AD73360L＋ADSP—BF531＋PIC32MX460F512L架构的介质损耗因数测量系统．仿真和实测结果表明，Rife—Vincent窗函数可有效抑制频