论文部分内容阅读
本文介绍了μC/OS-Ⅱ概况和ARM体系结构中与移植工作相关的一些概念,并在此基础上分析了基于ARM的移植工作.
μC／OS——Ⅱ在ARM上的移植
【摘 要】
：
本文介绍了μC/OS-Ⅱ概况和ARM体系结构中与移植工作相关的一些概念,并在此基础上分析了基于ARM的移植工作.
【机 构】
：
清华大学智能技术与系统国家重点实验室
【出 处】
：
电子设计应用
【发表日期】
：
2003年4期
其他文献
本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用.介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点.