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针对混合信号电路的测试问题，提出了一种内建自测试（BIST）结构，分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器（ADC）的静态参数．该方法利用三角波信号作为测试激励，采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静态参数．根据改进测试算法所构造的BIST结构实现了芯片内只有ADC电路的可测性设计，而不需要用到片内集成DSP．内嵌的信号发生器能自动生成高频连续三角波测试信号。适合高速ADC的测试．该BIST结构硬件开销小，易于片上集成，仿真试验表明了该结构的有效性．