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在采用恒电流电化学技术研究BaMoO4薄膜的初期生长特性实验中，发现了若干很重要的实验现象：薄膜生长初期形成的晶核首先具有白钨矿结构的骨架；晶核和刚开始长大生成的晶粒都是疏松的，晶粒都明显显示有蜂窝状空隙存在；随着制备时间的增加，白钨矿结构骨架原先疏松的程度逐渐减弱，经过一定时间，晶粒趋于饱满，晶粒表面基本光滑；在薄膜形成的过程中，新生成的晶核也具有类似情况。结合BaMoO4薄膜电化学制备机制分析，作者认为：利用电化学技术制备BaMoO4晶态薄膜时，在生长初期基体Mo以[MoO4]^2-的形式构成负离子配