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对利用线阵CCD测量干涉条纹中 ,由于CCD本身的分离性和象元的积分效应 ,以及干涉条纹 (余弦信号 )抽样的特殊性 ,深入讨论了“如何确定可测量条纹最大空间频率”、“象元积分效应对抽样的影响”和“象元相位匹配对条纹对比度的影响”等 3个问题 ,结果对于利用线阵CCD测量干涉条纹具有一般性的指导意义。