In掺杂SnS2的电子结构和光学性质的第一性原理研究

来源 :河北工业大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：qunimadebicaocao

【摘要】

：

采用基于密度泛函理论的第一性原理平面波赝势法对本征和不同浓度In掺杂的SnS2进行计算和分析.对能带结果分析,发现In杂质能级位于禁带中,In掺杂使SnS2带隙变小,并随着掺杂浓度的增加带隙逐渐减小.对介电常数分析,发现In掺杂导致了SnS2复介电常数实部和虚部的红移,明显降低了折射率,而且吸收和反射系数均表现出随着In掺杂浓度的升高而先降低后升高的趋势.研究结果表明In掺杂提高了SnS2对低能量光信号的探测性能,为SnS2光电器件的性能优化研究提供了理论依据.

【作者】

：

孟宪成袁硕安侠景永凯刘哲范超王蒙军郑宏兴

【机构】

：

河北工业大学电子信息工程学院,天津 300401

【出处】

：

河北工业大学学报

【发表日期】

：

2021年5期

【关键词】

：

密度泛函理论第一性原理二维材料二硫化锡光学性质

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