新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制

来源 :电子测量与仪器学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jonasgu
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本文充分利用分布式网络控制、可编程ASIC技术及数据库技术 ,在我国第三代集成电路高温动态老化系统BTI2 0 0 0的基础上 ,研制开发了新一代大规模集成电路高温动态老化系统 ,其体系结构和性能指标较原系统有很大的改进和提高
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