论文部分内容阅读
目的：利用终端开路同轴反射法测算物质介电系数时,针对电小尺寸探头确定一种简单可靠的标校方法。方法：通过误差分析,针对电小尺寸探头提出了采用相位相消的标校思路;并在10~120 MHz频段内建立终端开路同轴计算模型,就不同待测物进行仿真验证和物理模型验证,比较相位相消和常用标校方法得到的结果。结果：采用相位相消法标校后,测算介电系数误差小于5%,电导率误差小于1%,且测算结果抖动较小,优于常用方法标校后得到的结果。结论：利用终端开路同轴反射法测算物质介电系数时,针对电小尺寸探头采用相位相消法较常用标校方法更