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TD-LTE终端产品成熟的一个重要标志是终端一致性测试能力的完善,该环节即将在2011年的TD-LTE规模试验中逐步展开。
TD-LTE受限基带芯片 终端一致性测试即将展开
【摘 要】
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TD-LTE终端产品成熟的一个重要标志是终端一致性测试能力的完善,该环节即将在2011年的TD-LTE规模试验中逐步展开。
【机 构】
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《通信世界》编辑部
【出 处】
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通信世界
【发表日期】
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2010年42期
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