ZnO压敏电阻片的基础研究和技术发展动态

来源 :中国电工技术学会第八届学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:pp_dolphin
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从功能微观结构作用和控制、粉料预处理和制造技术等方面对ZnO压敏电阻片的基础理论研究进行了总结,并指出从技术发展动态看主要是:降低残压比、提高单位体积的能量耐受能力,提高压敏电位梯度,提高长期老化性能.
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