论文部分内容阅读
2007年9月17日，吉时利仪器公司，发布了其2600系列SourceMeters数字源表的两款新产品2635和2636，可实现业界技术最先进、效费比最高的半导体参数分析与测试。2635和2636采用最新特殊参数分析技术，实现了高达1fA（10^-15A）的测量分辨率，从而满足了很多半导体、光电和纳米器件的测试需求。此外，其基于仪器的多通道架构相比普通的基于主机的源测量方案降低50％的成本。