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根据目前TFT模块的生产现状和需求，依据TFT模块的驱动和测试原理，以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因，设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源，该信号源可提供Gate Odd，Gate Even，Data，Vgg和Vcom5路信号，此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4．6cm（1．8in），128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求，且测试效果良好。