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细胞结构分析用的生物学微腔激光器
【出 处】
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激光与光电子学进展
【发表日期】
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1999年36期
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高分辨率光电探测相机探测能力的提高受杂散光的限制, 杂散光在很大程度上决定了探测能力的底限。由于光学系统的杂散光受到诸多因素影响, 必须在最终指标上进行测试, 如: 点源透射率(PST), 用于全系统性能指标控制。利用星模拟器超大动态范围的光辐射输出, 设计了一台光学系统杂散光PST测试设备, 解决了单个探测器动态范围无法覆盖108的问题; 在一定信噪比下, 分析了电子倍增CCD杂散光PST测试能力。经分析杂散光PST测试范围可达到10-2～10-8, 满足高分辨率光电探测相机杂散光测试的要求。
激光技术引人注目的进展使光学元件在高功率系统中成为最弱的一环。由美国材料试验学会在波耳德市举行的激光材料破坏的学术会议上明显地看出，研究破坏机理的重点已从激光材料转移到元件上。
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We propose and demonstrate a novel scheme of semi-open-loop polarization control (SOL-PC), which controls the state of polarization (SOP) with high accuracy and uniform high speed. For any desired SOP, we first adjust the initial SOP using open-loop contr