数字电路的高层测试技术及其发展

来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：tourer

【摘要】

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简要介绍了数字VLSI电路高层测试的概念，主要的高层测试方法，高层测试中所采用的故障模型及其与门级stuck-at故障的对应关系；并展望了高层测试技术的发展趋势。

【作者】

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【机构】

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清华大学自动化系

【出处】

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微电子学

【发表日期】

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2006年2期

【关键词】

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