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一种数模混合芯片通过在芯片设计过程中，增加了可测性设计，使得芯片建立故障的敏感化通路，观测到芯片对于激励的响应，从而判断电路是否存在故障。根据芯片各个模块的特性，采用不同的可测性方法对其进行具体设计，数字部分采用SCAN的测试方式进行可测性设计，内部的存储器采用MBIST的测试方法、并通过流片后使用测试台对芯片进行测试，对可测性设计进行了验证。