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目的：采用在口腔内直接测定腐蚀电位值，在30d内对汞合金充填体进行电位变化测定。测定使用微电极探针、Ag／AgCl为参比电极、高阻抗电位计。方法：选择不同时间作汞合金填充的患者（2个月、1年、2年、3年、5年）为研究对象，不改变其饮食和卫生习惯。经过连续监测，填充体腐蚀电位都发生变化。结果：腐蚀电位的平均变化在30mV，其中最大变化达到105my。结论：随着填充体使用的时间增加，腐蚀电位的变化有增大的趋势。