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本文针对垂直探测电离图的复杂性和特殊性,提出了一种提取垂直探测电离图描迹的方法。该算法先去干扰,然后进行OS-CFAR检测,最后去虚警点。通过对实测数据的处理,表明这种方法能够有效去除干扰并保留电离层信息,并且可移植度高,适合工程应用。
一种提取垂直探测电离图描迹的方法
【摘 要】
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本文针对垂直探测电离图的复杂性和特殊性,提出了一种提取垂直探测电离图描迹的方法。该算法先去干扰,然后进行OS-CFAR检测,最后去虚警点。通过对实测数据的处理,表明这种方
【机 构】
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中国电波传播研究所青岛分所
【出 处】
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电脑知识与技术
【发表日期】
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2016年5X期
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