论文部分内容阅读
V93000测试系统是一个集成电路测试设备,用来进行IC测试。对于复杂的集成电路,其测试向量数据庞大,由于V93000测试系统自身向量空间的限制,因此压缩测试向量具有十分重要的意义。该文主要从测试向量生成角度出发,提出一种自编向量重复脚本压缩与V93000的4X配置和Multiport方式相结合的办法来进行测试向量的压缩。该文以反熔丝FPGA测试为例子,通过此方法将测试向量压缩了20倍。