4H—SiCMESFET特性对比及仿真

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通过对双凹栅结构和阶梯栅结构4H—SiCMESFET的直流特性对比,得出阶梯栅结构的直流特性优于双凹栅结构。对阶梯栅结构进行极限化处理后,引出了坡形栅4H—SiCMESFET的结构及其特征参数EPcc,通过仿真对比了坡形栅4H—SiCMESFET结构EPCC分别为1/4栅、1/2栅、3/4栅和全栅时的直流特性。结果表明,当EPcc为1/2栅时,最大饱和漏电流取得最大值,在Vc=0V、VDs=40V的条件下达到了545mA;当EPCc为1/4栅、3/4栅和全栅时,最大饱和漏电流均不如EPcc为1/2栅时取得
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