测试测量技术迎来新一轮成长期——“EDNChina测试测量研讨会”专题报道

来源 :EDN CHINA 电子设计技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xiaoya2001
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随着人们对电子产品的质量要求越来越高,测试测量技术面临的挑战也越来越严峻。传统的模拟和数字示波器遇到了很多瓶颈,比如垂直灵敏度和精度、触发抖动、频谱分析速度、动态范围以及隔离度等,此外,工程师越来越需要覆盖时域和频域技术的整体解决方案。在这些趋势下,测试测量技术迎来前所未有的成长机遇,进入了新一轮的发展期。2012年2月25日,国内外顶级的测试测量厂商齐聚EDNChina在深况。传统的调试方式一般使用示波器查看模拟信号,使用逻辑分析仪查看数字信号,软件工程师还需要协议分析仪帮助调试,整个调试过程需要多台仪器帮助完成,系统复杂且成本高昂,而混合示波器兼备了上述三种仪器的主要功能,已成为嵌入式系统设计中的首选仪器。
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