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超越S参数测试-安捷伦科技最先进的矢量网络分析仪PNA-X
超越S参数测试-安捷伦科技最先进的矢量网络分析仪PNA-X
来源 :电子测试 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wqwwvfbgo
【摘 要】
:
无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战.在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要.生产制造过程中,需要在保持精度和
【出 处】
:
电子测试
【发表日期】
:
2007年9期
【关键词】
:
参数测试
安捷伦
科技
生产制造
重大挑战
制造过程
研发过程
射频元件
测试时间
测试成本
工程师
产出率
缩短
设计
精度
复工
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无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战.在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要.生产制造过程中,需要在保持精度和最大产出率的同时,缩短测试时间和降低测试成本.
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