论文部分内容阅读
本文描述了硅中氮离子注入及其对硅热氧化生长的抑制作用。通过硅中氮离子注入,可获得高质量的薄氧化层。实验表明,只要氯离子注入条件选择合适,得到的薄氧化层的漏电和击穿都有明显改善,其氧化电荷并无较大增加。通过氮注入形成的氧化层与氨氛氧化的薄氧化层类似,完全可以运用于实际的半导体集成电路制作工艺中。