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微测辐射热计吸收入射红外辐射,引起读出电路输出信号的非均匀性.由于非均匀性校正的局限性,以前的微测辐射热计需要对基底温度进行精确控制.文中在两点校正法的基础上,提出了偏置校正法,可以放松对基底温度控制的要求.在常规两点增益与补偿校正法基础上,采用偏置校正,可在更宽的基底温度范围内进行非均匀性校正.这样的话,在读出电路片上进行基底温度控制是可能的.