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某制导弹药电子延时器长贮退化原因探析
某制导弹药电子延时器长贮退化原因探析
来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:aixuexier
【摘 要】
:
通过对某制导弹药电子延时器进行失效模式分析及仿真模拟,探寻可能出现的长贮失效模式与原因.以自然贮存9年的电子延时器为样本,制订了步进温度应力加速退化试验方案,开展试
【作 者】
:
赵铁山
齐杏林
郑波
王铄
【机 构】
:
军械工程学院,总装军械技术研究所,国营第三○四厂军代室
【出 处】
:
电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
:
2014年1期
【关键词】
:
电子延时器
长贮
加速退化
制导弹药
electronic delayer long-term-storage accelerated degradation
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通过对某制导弹药电子延时器进行失效模式分析及仿真模拟,探寻可能出现的长贮失效模式与原因.以自然贮存9年的电子延时器为样本,制订了步进温度应力加速退化试验方案,开展试验并对试验结果进行分析,得出可能导致产品退化的各种原因.
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