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提出了一种实用的测量微波谐振器无载品质因素的方法，在临界点法的基础上，消除了馈线引入的相移．该相移的出现会使谐振器等效阻抗曲线在Smith圆图中发生旋转，进而影响到测量结果．通过在Smith圆图中对测量的输入阻抗曲线进行旋转，根据寻找出的一个目标函数来判断合适的旋转角度，即为馈线引入的相移．对所提出的方法进行了数值模拟，并通过了一组实测数据做了验证．