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激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素。本设计采用高性能单片机AVRAtmega16L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪，对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差小于2％．方差小于2．2×10—3。满足了光栅测试的精度和稳定性要求。