创新、专注,引领测试测量新发展——EDI CON 2014巡览

来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:JohnWaken19
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2014年4月8~10日,笔者参加了在北京国际会议中心举办的EDI CON2014,重点关注此次展示的测试测量解决方案和最新产品信息.安捷伦继续作为首席赞助商参展,R&S、NI、安立、中电41所等企业作为钻石或者黄金赞助参与展会.为期3天的展会中,射频微波和通信领域的领军企业们纷纷向到场观众展示了国内外关于射频微波/通信领域的新技术、新产品及未来的发展趋势.下文,笔者以部分参会企业的代表性产品,向关注此行业发展的读者做一报道.
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